環(huán)境級X、γ輻射測量儀/X、γ輻射測量儀/射線檢測儀/表面污染檢測儀型號;DP-FJ1200

DP-FJ1200是種便攜式環(huán)境級x、γ輻射劑量率測量儀，主要用于環(huán)境輻射本底以及低水平X、γ輻射劑量率的測量。儀器內(nèi)置個大尺寸的晶體作為探測器，采用速、低耗微處器作為數(shù)據(jù)處理單元，采用大屏幕、帶背光的圖型點陣LCD作為顯示界面，采用薄膜按鍵行操作，操作簡單。用戶還可自行設(shè)置劑量率閾值，同時本儀器具有閾值報警、欠壓報警、計數(shù)故障報警、壓故障報警能，并采用實現(xiàn)了過載報警的能。

儀器符合中家計量檢定規(guī)程（JGG 393-2003），是行放射性環(huán)境本底普查和監(jiān)測的理想產(chǎn)品；本儀表可用于環(huán)保檢測環(huán)境本底情況，院人員監(jiān)測射線療設(shè)備附近本底，無損檢驗(即射線探傷)裝置是否有輻射泄漏，核電站附近居民區(qū)環(huán)境本底測量，農(nóng)業(yè)的輻照育種設(shè)備是否有輻射泄漏。適用人群和機構(gòu)有：環(huán)境監(jiān)測機構(gòu)，院輻射療設(shè)備操作管理人員，射線探傷裝置的操作和管理人員，經(jīng)常需要使用放射源的劑量刻度站和研究核輻射和輻射儀表的科研人員等。滿足環(huán)保、衛(wèi)生、探傷、冶金、石油、化、商檢、核、海關(guān)等行業(yè)行輻射防護(hù)監(jiān)測的要求。

【能特點】

Ü      可測量X、γ射線

Ü      采用NaI(TI)晶體作為探測元件，靈敏度

Ü      采用速、低耗的微處理器單元

Ü      采用圖型點陣LCD界面顯示，帶背光

Ü      采用薄膜開關(guān)按鍵，操作方便及中文提示

Ü      劑量率報警閾值連續(xù)可調(diào)

Ü      測量響應(yīng)快，每秒顯示次

Ü      閾值報警、過載報警

Ü      欠壓報警、計數(shù)故障報警、壓故障報警

Ü      測量結(jié)果由模擬和數(shù)字同步顯示

【參數(shù)】

Ü      輻射類型：X，γ射線

Ü      探 測 器：Φ50 × 40 mm，NaI（Tl）晶體

Ü      靈 敏 度：>1500cps/µSv/h

Ü      測量范圍：0.01 ~ 200.00 µSv/h

Ü      顯示范圍：0.001 ~ 200.000μSv/h

Ü      響應(yīng)時間：< 3 s

Ü      測量度：≤ ± 15%（137Cs）

Ü      能量響應(yīng)：40 keV ~ 3MeV

Ü      報警能：閾值報警、欠壓報警、過載報警、探頭故障報警、壓故障報警

Ü      溫度特性：-10℃~ +50℃

Ü      濕度特性：RH 95% (35℃)

Ü      外形尺寸：280×120×200mm

Ü      供電方式：4節(jié)AA電池(5號堿性電池)

Ü          耗：< 240mW

Ü      外殼防護(hù)等級：IP64

Ü      重    量：< 1200g（含電池